一、IRT-2000B紅外雙色測(cè)溫儀產(chǎn)品概述

紅外雙色測(cè)溫儀又稱比色測(cè)溫儀，是分別接收物體紅外熱輻射中兩個(gè)相鄰波段內(nèi)的能量，根據(jù)兩個(gè)能量的比值大小來確定物體的溫度。這樣不論物體的輻射率是高是低，兩個(gè)相鄰波段內(nèi)輻射能量的比值基本保持不變，消除輻射率等因素對(duì)紅外能量測(cè)量的影響，從而擺脫了紅外測(cè)溫技術(shù)對(duì)能量的依賴，使高精度、高重復(fù)性的溫度測(cè)量成為可能。在使用中，與單色紅外測(cè)溫儀相比，在下列條件下可進(jìn)行有效的測(cè)量：

到目標(biāo)的測(cè)量視場(chǎng)部分被遮擋，如：儀器與目標(biāo)之間有灰塵、煙霧、或水蒸氣；儀器與目標(biāo)之間有某些減少輻射能量的物體，象格子、柵欄等；儀器自身鏡頭表面有少量的灰塵或濕汽的積累等等。
當(dāng)目標(biāo)物體不夠大或在視場(chǎng)內(nèi)移動(dòng)時(shí)，輻射能量會(huì)相應(yīng)減小，但不同波段上能量的比值保持不變，只要背景溫度比目標(biāo)物體溫度低很多，測(cè)量的準(zhǔn)確性就不會(huì)受到影響，如：冶金行業(yè)中線材或棒材加工過程中的溫度檢測(cè)；測(cè)量熔融狀態(tài)下的玻璃流等。
當(dāng)目標(biāo)輻射率低，而且在兩個(gè)波段內(nèi)變化相同。

雙色測(cè)溫儀的另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是可以安裝的更遠(yuǎn)，即使目標(biāo)已不能充滿視場(chǎng)。這樣就不會(huì)由于目標(biāo)大小和距離系數(shù)的原因，需將儀器安裝在特定的距離上。

   IRT-2000B雙色紅外測(cè)溫儀是綜合了雙色紅外測(cè)溫技術(shù)和高性能微處理控制技術(shù)來進(jìn)行物體溫度測(cè)量的，裝有目視光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、響應(yīng)快等特點(diǎn)，可廣泛應(yīng)用于軋鋼、熱處理、連鑄、窯爐、冶煉等過程中的在線溫度檢測(cè)。尤其是使用傳統(tǒng)測(cè)溫手段比較困難的測(cè)溫目標(biāo)，例如熱鍍鋅、高速線材在線測(cè)溫、熱軋薄板輥溫在線測(cè)量、連鑄過程測(cè)溫、感應(yīng)加熱表面測(cè)溫、爐內(nèi)鋼坯溫度檢測(cè)、細(xì)小目標(biāo)測(cè)溫等等，該儀器均能獲得較好的測(cè)量效果。

儀器工作原理如下：被測(cè)目標(biāo)物體的紅外輻射通過精密紅外光學(xué)系統(tǒng)會(huì)聚到雙色紅外探測(cè)器上，探測(cè)器將相應(yīng)兩波段內(nèi)的能量轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的電信號(hào)，形成雙色信號(hào) 。雙色信號(hào)經(jīng)信號(hào)放大后進(jìn)行模 數(shù) 轉(zhuǎn) 換 , 將信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)送入微處理器，微處理器對(duì)雙色數(shù)字信號(hào)進(jìn)行比值運(yùn)算、線性化處理等，zui后將溫度值進(jìn)行顯示，同時(shí)將結(jié)果傳送到輸出接口。

二、IRT-2000B紅外雙色測(cè)溫儀儀器主要參數(shù)

測(cè)溫范圍： 800℃—1600℃

1000℃-2000℃ 

分 辨 率：  1℃

距離系數(shù)： 150：1

響應(yīng)波長： 單色    0.95-1.1

           雙色   0.85-1.1/0.95-1.1

輻 射 率：  0.20-1.00可調(diào)，步長0.01

測(cè)量精度：  1%滿量程

響應(yīng)時(shí)間：  小于100ms

電    源：  9V疊層電池

使用環(huán)境：  0℃-50℃（高于該條件時(shí)，請(qǐng)加熱保護(hù)裝置）

三、IRT-2000B紅外雙色測(cè)溫儀儀器使用

1．           電池安裝：打開電池盒蓋，將電池安裝好后，再將電池盒蓋裝好。

2．           瞄準(zhǔn): 通過儀器槍瞄瞄準(zhǔn)目標(biāo)，調(diào)整眼睛與槍瞄目鏡的相對(duì)位置，以便通過槍瞄目鏡觀測(cè)目標(biāo)，使目標(biāo)盡可能落在分劃圓的中央，這時(shí)測(cè)得準(zhǔn)確的值。為了更好的使用儀器，在使用儀器之前，要考慮使用現(xiàn)場(chǎng)的環(huán)境溫度、大氣質(zhì)量等因素對(duì)儀器測(cè)溫的影響，同時(shí)應(yīng)避免任何高強(qiáng)度光源或加熱器進(jìn)入測(cè)量視場(chǎng)。以下用圖示說明（僅供參考）